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公司董事長在2018年光譜年會做邀請報告
發(fā)布日期:2018-11-03   瀏覽次數(shù):2211

        2018年10月20日,第二十屆全國分子光譜學(xué)學(xué)術(shù)會議暨2018年光譜年會40周年慶典在青島舉辦。公司董事長楊良保研究員受邀參會,并做題為《表面增強拉曼光譜檢測中的基底組裝研究》的報告。報告中他介紹了SERS檢測中的測試方法,比如以固態(tài)成膜基底的干法檢測、以貴金屬納米溶膠為基底的濕法檢測以及動態(tài)檢測法(D-SERS)等,提出了SERS基底中的關(guān)鍵科學(xué)問題,詳細(xì)論述了二維熱點材料的組裝研究,比如液液界面基底自組裝及其快速獲取、固液界面金納米棒SERS基底調(diào)控等問題,受到與會專家的一致好評。


(圖片來源:分析測試百科網(wǎng))

報道:韋達飛;編輯:韋達飛)